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產(chǎn)品名稱:
大塚電子Otsuka日本OTSUKA
產(chǎn)品型號:
分光干渉式晶圓膜厚儀 SF-3
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大塚電子
折扣價格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):49
產(chǎn)品文檔:
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分光干渉式晶圓膜厚儀 SF-3 大塚電子Otsuka日本OTSUKA
大塚電子Otsuka日本OTSUKA
的詳細介紹
分光干渉式晶圓膜厚儀 SF-3 大塚電子Otsuka日本OTSUKA
大塚相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大塚相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-1江蘇蘇州南京太倉安徽蕪湖合肥浙江杭州常州常熟蘇州古尾谷有售強勢供應有技術(shù)支持
詳情介紹：
相位差膜?光學材料檢查設備 RETS-100
相位差膜?光學材料檢查設備 RETS-100對應范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應
蘇州古尾谷電子有限公司 代理銷售 直供各類工業(yè)品 聯(lián)系人陳小姐15250013623
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即時檢測
WAFER基板于研磨制程中的膜厚
玻璃基板于減薄制程中的厚度變化
(強酸環(huán)境中)
產(chǎn)品特色
非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測
采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性
可進行高速的即時研磨檢測
可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測
可對應長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設備中
體積小、省空間、設備安裝簡易
可對應線上檢測的外部信號觸發(fā)需求
采用*適合膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得磚利)
可自動進行膜厚分布制圖(選配項目)
規(guī)格式樣
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SF-3
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膜厚測量范圍
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0.1 μm ~ 1600 μm※1
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膜厚精度
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±0.1% 以下
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重復精度
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0.001% 以下
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測量時間
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10msec 以下
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測量光源
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半導體光源
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測量口徑
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Φ27μm※2
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WD
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3 mm ~ 200 mm
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測量時間
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10msec 以下
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※1 隨光譜儀種類不同,厚度測量范圍不同
※2 *小Φ6μm
長期供應 大冢光學OTSUKA RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢OTSUKA 蘇州新杉本直銷/聯(lián)系人陳小姐15250013623
1、VR/AR硬件設備：顯示設備、輸入設備、數(shù)據(jù)設備、跟蹤設備、跟蹤系統(tǒng)、定位系統(tǒng)、其它跟蹤等；
2、VR/AR技術(shù)：立體顯示技術(shù)、環(huán)境建模技術(shù)、真實感實時繪制技術(shù)、三維虛擬聲音技術(shù)、視覺實時動態(tài)繪制技術(shù)、人機自然交互技術(shù)、傳感技術(shù)、物理仿真技術(shù)、三維全真技術(shù)、實時碰撞檢測技術(shù)等；
3、VR/AR系統(tǒng)設備：沉浸式虛擬現(xiàn)實系統(tǒng)、桌面式虛擬現(xiàn)實系統(tǒng)、增強式虛擬現(xiàn)實系統(tǒng)、分布式虛擬現(xiàn)實系統(tǒng)、視覺感知設備、聽覺感知設備、觸覺反饋設備、信息處理系統(tǒng)等；
4、VR生產(chǎn)設備及零配件：VR系統(tǒng)半導體、顯示器、光學鏡片、光學模組、微顯示器、傳感器、顯示芯片、顯示屏、微電子技術(shù)和系統(tǒng)集成等；
5、VR/AR軟件：建模工具軟件、開發(fā)工具軟件、web3D技術(shù)、cult3D技術(shù)、VRML虛擬現(xiàn)實建模語言、全景技術(shù)等；
6、VR/AR娛樂：VR樂園、VR旅游、VR/AR駕駛、VR建模游戲、VR射擊游戲、數(shù)字影院、數(shù)字影片、互動多媒體、體感互動、3D投射球幕影院、360全息投影、五維影院、VR影視、VR主題公園、VR賽車、VR跳舞、VR密室逃脫、VR二次元等；
