AFM-Ramanは、簡(jiǎn)便に材料表面の物理、化學(xué)情報(bào)を得るための有効な複合裝置です。また、単にAFMとラマン分光測(cè)定を行うだけでなく、特殊なプローブを用いることでTERS、あるいはSNOMを組み合わせた測(cè)定が可能であり、AFM-Ramanはナノメートルスケールの構(gòu)造解析ツールとして今後ますます発展する可能性があります。

AFM-ラマンとTERS が容易に

• AFM、STM、SNOMなどの様々なSPM測(cè)定に対応
• 対物レンズスキャナを用いたレーザ照射ポイントのファインアライメント
  
• 垂直?斜方向に高NAの対物レンズ(0.7)を配置し、測(cè)定モードに合わせた*適な光學(xué)系を選択
  
• 1300 nm ダイオードをカンチレバーフィードバックに採(cǎi)用し、可視～近赤外領(lǐng)域においてダイオード光の干渉のない測(cè)定
  
• AFMヘッドを取り外さずサンプル?チップ交換。交換前後のカンチレバー位置を自動(dòng)調(diào)整(交換前後で測(cè)定位置座標(biāo)が同じ)
  
• カンチレバータイプおよびチューニングフォークを用いたメタルチップのTERS測(cè)定が可能
  
  チューニングフォークを用いたTERS測(cè)定
• LabRAM HR Evolutionとの統(tǒng)合により、紫外～近赤外領(lǐng)域まで高スペクトル分解能の測(cè)定を?qū)g現(xiàn)
• 1 臺(tái)のPCでAFMとラマン分光裝置を制御。

＜TERSによるナノスケールイメージング＞

表面トポグラフィとてTERSイメージを同時(shí)取得可能。

カーボンナノチューブ測(cè)定

カーボンナノチューブ?グラフェン測(cè)定

TERSイメージ

ソフトウェア

スクリプト機(jī)能やワンクリックで測(cè)定できるメソッド機(jī)能を備えたHORIBAオリジナルのラマンソフトウェアLabspec6と、AFMソフトウェアを統(tǒng)合。AFMで測(cè)定したポイントを簡(jiǎn)易な操作でラマン分光測(cè)定できるなど、AFM-Ramanとしての操作性を追求しました。

様々なタイプのAFMと正立?倒立顕微鏡タイプの顕微ラマン分光裝置との統(tǒng)合など、カスタマイズ対応可能です。詳細(xì)は弊社にお問(wèn)い合わせください。